如何避免電容裂紋的產(chǎn)生
引起MLCC裂紋的因素還有哪些?
生產(chǎn)商包裝后的產(chǎn)品不太可能是存在裂紋的,大多數(shù)貼片電容MLCC制造商非常小心地確保最終外觀檢驗(yàn)質(zhì)量和正確的搬運(yùn)操作。除了貼裝過(guò)程的擠壓和加工過(guò)程的彎曲,裂紋還會(huì)因熱沖擊,板內(nèi)測(cè)試和氫吸收引起的。
電容器用戶如何檢測(cè)裂紋?
首要的是提供更多的資源去避免裂紋的產(chǎn)生而不是去檢測(cè)裂紋是否存在。不過(guò),裂紋是可以通過(guò)使用電阻測(cè)試儀進(jìn)行在板檢測(cè)的。一般地,電容存在裂紋,電阻值會(huì)下降,或經(jīng)老化后電阻值會(huì)明顯下降。
注意:要標(biāo)示“警告”避免板彎曲和直接的元件接觸。
MLCC被貼裝在PCB板后,當(dāng)PCB板因外力作用而彎曲時(shí),MLCC基體承受拉伸應(yīng)力。
(1)會(huì)引起容量下降的裂紋
(2)會(huì)引起絕緣下降的裂紋
當(dāng)裂紋處于錯(cuò)位電極區(qū)域時(shí),MLCC絕緣(IR)會(huì)下降,經(jīng)通電老化后絕緣(IR)明顯下降,可以通過(guò)儀器在線檢測(cè)。
但當(dāng)裂紋很細(xì)小時(shí),會(huì)出現(xiàn)出廠前短時(shí)間老化也不能有效排除有裂紋的MLCC,直到最終用戶使用一段時(shí)間后才發(fā)生絕緣下降電路失效的情況。
盡管微小裂紋可以通過(guò)工業(yè)CT或超聲波儀探測(cè)出來(lái),但效率太低、成本太高,不適合大規(guī)模生產(chǎn)。
因此對(duì)于裂紋,首要的是避免裂紋的產(chǎn)生而不是檢測(cè)裂紋是否存在。
避免裂紋之—提高M(jìn)LCC抗裂紋能力
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