mlcc失效原因分析
多層陶瓷電容器本身具有優(yōu)異的內(nèi)部可靠性,可長期穩(wěn)定使用。但是,如果設(shè)備本身存在缺陷或在裝配過程中引入缺陷,將嚴(yán)重影響其可靠性??斩慈菀讓?dǎo)致泄漏,泄漏導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部局部加熱,進(jìn)一步降低陶瓷介質(zhì)的絕緣性能,導(dǎo)致泄漏增加。主要原因與燒結(jié)過程中的冷卻速度、裂紋和危害相似。燒結(jié)溫度可達(dá)1000℃以上。任何可能在裝配過程中彎曲變形的操作都可能導(dǎo)致裝置開裂。這種缺陷也是實際上最常見的類型缺陷。
多層陶瓷電容器本身具有優(yōu)異的內(nèi)部可靠性,可長期穩(wěn)定使用。但是,如果設(shè)備本身存在缺陷或在裝配過程中引入缺陷,將嚴(yán)重影響其可靠性。
陶瓷介質(zhì)內(nèi)空洞主要有以下內(nèi)部因素 (Voids),造成空洞的主要因素是陶瓷粉末中的有機(jī)或無機(jī)污染,燒結(jié)過程控制不當(dāng)??斩慈菀讓?dǎo)致泄漏,泄漏導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部局部加熱,進(jìn)一步降低陶瓷介質(zhì)的絕緣性能,導(dǎo)致泄漏增加。該過程循環(huán)發(fā)生,惡化,嚴(yán)重導(dǎo)致多層陶瓷電容器開裂、爆炸,甚至燃燒。
燒結(jié)裂紋通常起源于一端電極,沿垂直方向擴(kuò)展。主要原因與燒結(jié)過程中的冷卻速度、裂紋和危害相似。
多層陶瓷電容器的燒結(jié)是多層材料疊共燒。燒結(jié)溫度可達(dá)1000℃以上。層間結(jié)合力不強(qiáng),燒結(jié)過程中內(nèi)部污染物揮發(fā),燒結(jié)過程控制不當(dāng)可能導(dǎo)致分層。分層類似于空洞和裂紋的危害,是多層陶瓷電容器的重要內(nèi)部缺陷。
溫度沖擊裂紋(thermal crack),主要是由于焊接過程中的溫度沖擊,特別是峰值焊接,維修不當(dāng)也是溫度沖擊裂紋的重要原因。
多層陶瓷電容器的特點是能承受較大的壓力應(yīng)力,但抗彎能力相對較差。任何可能在裝配過程中彎曲變形的操作都可能導(dǎo)致裝置開裂。常見的應(yīng)力源包括:貼片中間、電路板操作、人員、設(shè)備、重力等因素、通孔元件插入、電路測試、單板分割、電路板安裝、電路板定位鉚接、螺釘安裝等。這些裂紋通常起源于設(shè)備的上下金屬端,沿45個℃角向設(shè)備內(nèi)部擴(kuò)展。這種缺陷也是實際上最常見的類型缺陷。
推薦產(chǎn)品
- 鋁電解電容
插件鋁電解電容器擁有體積小 、壽命長(2000~8000h),高性能、寬溫 (85℃或105℃)等特點,可用于高穩(wěn)定電路。
- 數(shù)字三極管
0603 0805 1206特征:將一只或兩只電阻器與晶體管連接后封裝在一起構(gòu)成,通常作為一個中速開關(guān)管,在電路中可看作一個電子開關(guān),但其飽和導(dǎo)通時,管壓降很小。應(yīng)用:廣泛應(yīng)用電視機(jī)、影碟機(jī)、錄像機(jī)、DVD及顯示器等家電產(chǎn)品中。
- NTC熱敏電阻
NTC熱敏電阻是一種負(fù)溫度系數(shù)電阻器,其阻值隨環(huán)境溫度的升高而降低,這種熱敏電阻是由2種或4種金屬氧化物經(jīng)過成型并在高溫下燒制而得成。
- 合金電阻
合金電阻最高功率可達(dá)2W,最低TCR為±50ppm,適用于作電流探測用電阻器,如電源電路,發(fā)動機(jī)用電路等,機(jī)械強(qiáng)度高,高頻特性優(yōu)越,產(chǎn)品符合ROHS指令以及無鹵素要求
- 牛角鋁電解電容器
基板自立型鋁電解電容在85℃下可負(fù)載壽命2000小時,擁有小型化的特點,適用于開關(guān)電源、通信設(shè)備及其他各種電子產(chǎn)品。
- 容變二極管
0603 0805 1206特征:利用PN結(jié)之間電容可變的原理制成的半導(dǎo)體器件,在高頻調(diào)諧、通信等電路中作可變電容器使用。應(yīng)用:LC調(diào)諧電路、電子調(diào)諧、調(diào)幅、調(diào)頻、自動頻率控制、RC濾波電路等。
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