如果測試儀非常小心，那么可以采用類似于mil-std-461的測試裝置來檢測共模扼流圈的飽和特性。然而，使用內(nèi)模探 頭的隱患在于內(nèi)模探 頭的電流衰減功能。即使達到衰減值，測量的差模分量也可能超過預期的共模分量值。其次，在每個10μf電容器和電源總線之間連接一根導線。為了快速方便地介紹共模扼流圈的功能，可以考慮以下討論：“共模扼流圈鐵芯兩側(cè)的磁場相互抵消，雖然本文對共模扼流圈效應進行了直觀的描述，但本質(zhì)上并非如此。

如果測試儀非常小心，那么可以采用類似于mil-std-461的測試裝置來檢測共模扼流圈的飽和特性。該原理的應用是：測試中使用兩個電流探針，低頻探針監(jiān)測線電流，高頻探針只測量共模發(fā)射電流。采用線電流監(jiān)測器作為觸發(fā)源。然而，使用內(nèi)模探 頭的隱患在于內(nèi)模探 頭的電流衰減功能。如果仔細布置繞組布局，可獲得約30dB的差模電流衰減。即使達到衰減值，測量的差模分量也可能超過預期的共模分量值。這個問題可以通過以下兩種技術(shù)來解決：一是用示波器串聯(lián)一個6KHz的高階高通濾波器（注意匹配終端阻抗50）。其次，在每個10μf電容器和電源總線之間連接一根導線。為了測量共模輻射，電流探針應該夾在這些承載小線電流的導線附近。

為了快速方便地介紹共模扼流圈的功能，可以考慮以下討論：“共模扼流圈鐵芯兩側(cè)的磁場相互抵消，雖然本文對共模扼流圈效應進行了直觀的描述，但本質(zhì)上并非如此。

參照以下關(guān)于麥克斯韋方程的討論：

*假設(shè)電流密度j產(chǎn)生磁場H，可以得出結(jié)論，附近的另一個電流不會抵消或阻止磁場或其產(chǎn)生的電場。

*類似地，相鄰的電流會導致磁場路徑發(fā)生變化。

*在環(huán)形共模電感的特殊情況下，可以假定每根引線中的差模電流密度相等且方向相反。因此，產(chǎn)生的磁場在環(huán)形磁芯的外 圍必 須為0，而在外部不能為0！

摘自：http://www.sznse.com/Article/ydlylclgmel.html