關(guān)于電解電容的非正常失效
隨著溫度的降低,電解質(zhì)的粘度增加,因此離子遷移率和電導(dǎo)率降低。當(dāng)電解質(zhì)被凍結(jié)時(shí),離子遷移率低,電阻高。通常超過(guò)正常電壓的30%,尤其是單相輸入。相位偏差會(huì)加重交流輸入的正常范圍。據(jù)統(tǒng)計(jì)分析,通信開(kāi)關(guān)電源靠近電網(wǎng)的PFC輸出電解電容故障,主要是由電網(wǎng)的浪涌和高壓破壞引起的。
電解電容器廣泛應(yīng)用于電力電子的各個(gè)領(lǐng)域。主要用于交流電壓整流之后的平滑、儲(chǔ)能或?yàn)V波。此外,它們還用于非精確定時(shí)延遲等。在預(yù)測(cè)開(kāi)關(guān)電源的平均無(wú)故障時(shí)間時(shí),模型分析結(jié)果表明,電解電容是影響開(kāi)關(guān)電源使用壽命的主要因素。因此,了解和影響電容器使用壽命的因素是非常重要的。電解電容器的壽命取決于其外部溫度。以,電解電容器的設(shè)計(jì)和使用條件會(huì)影響電解電容器的使用壽命。
從設(shè)計(jì)的角度來(lái)看,電解電容器的設(shè)計(jì)方法、材料和加工工藝決定了電容器的使用壽命和穩(wěn)定性。應(yīng)用之中,電解電容器的工作電壓、紋波電流、開(kāi)關(guān)頻率、安裝形式和散熱方式等都會(huì)影響到電解電容器的使用壽命,而極低的溫度、電容器溫升(焊接溫度、環(huán)境溫度、交流紋波)、過(guò)電壓、瞬態(tài)電壓、VHF或反向偏置電壓等都會(huì)引起電解電容器的失效。溫度升高是影響電解電容器工作壽命(LOP)的最重要因素。
電容器的電導(dǎo)率是由電解質(zhì)的電離能力和粘度決定的。隨著溫度的降低,電解質(zhì)的粘度增加,因此離子遷移率和電導(dǎo)率降低。當(dāng)電解質(zhì)被凍結(jié)時(shí),離子遷移率低,電阻高。相反,過(guò)多的熱量會(huì)加速電解液的蒸發(fā)。電解液量下降到一定限度時(shí),電容器的使用壽命也就結(jié)束了。在寒冷地區(qū)(一般低于—25℃)工作時(shí),需要加熱,以保證電解電容器的正常工作溫度。例如,中國(guó)東北地區(qū)的戶(hù)外UPS都配有加熱板,電容器在過(guò)電壓之下容易擊穿,但在實(shí)際應(yīng)用之中經(jīng)常出現(xiàn)浪涌電壓和瞬時(shí)高壓。特別是中國(guó)幅員遼闊,電網(wǎng)復(fù)雜。
因此,交流電網(wǎng)是非常復(fù)雜的。通常超過(guò)正常電壓的30%,尤其是單相輸入。相位偏差會(huì)加重交流輸入的正常范圍。試驗(yàn)表明,常用的450V/470uf105°C進(jìn)口普通2000h電解電容器在1.34倍額定電壓的電壓之下,2小時(shí)之內(nèi)就會(huì)漏液、漏氣和推壓。據(jù)統(tǒng)計(jì)分析,通信開(kāi)關(guān)電源靠近電網(wǎng)的PFC輸出電解電容故障,主要是由電網(wǎng)的浪涌和高壓破壞引起的。電解電容器的電壓通常分兩步降低到額定值的80%。
推薦產(chǎn)品
- 通用型X7R片容
通用型X7R片容屬于Ⅱ類(lèi)低頻電容器,其電容量相對(duì)穩(wěn)定 。
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疊層片式鐵氧體電感器擁有體積小,漏磁小,不產(chǎn)生耦合,可靠性高等特點(diǎn),適合高密度表面貼裝,多數(shù)應(yīng)用于VCD/DVD、數(shù)碼相機(jī)、電腦、數(shù)字電視以及機(jī)頂盒等地方。
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貼片磁珠在同樣的尺寸下比插件磁珠可產(chǎn)生較高的阻抗值,多數(shù)應(yīng)用于數(shù)據(jù)傳輸線(xiàn)、信號(hào)線(xiàn)、電源部分及回路的抗干擾!
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型號(hào)齊全可定制,采用鐵氧體磁心,雙線(xiàn)并繞。 低差模噪聲信號(hào)抑制干擾源,在高速信號(hào)中難以變形。 應(yīng)用:抑制電子設(shè)備 EMI 噪音。 DVC,STB 的 IEEE 1394 線(xiàn)路。 液晶顯示面板,低壓微分信號(hào)。 個(gè)人電腦及外圍設(shè)備的 USB線(xiàn)路。
- 通用型Y5V片容
通用型Y5V片容屬于Ⅱ類(lèi)低頻電容器,其電容量受溫度、電壓、時(shí)間變化大
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