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影響電解電容壽命的幾個(gè)直接因素

文章出處:作者:人氣:-發(fā)表時(shí)間:2017-01-05 17:18:00

  影響電解電容壽命的幾個(gè)直接因素:紋波電流(IRMS)和等效串聯(lián)電阻值(ESR)、環(huán)境溫度(Ta)、從熱點(diǎn)傳遞到周圍環(huán)境的總的熱阻(Rth)。

  電容內(nèi)部溫度最高的點(diǎn),叫熱點(diǎn)溫度(Th)。

  熱點(diǎn)溫度值是影響電容工作壽命的主要因素。

  而下列因素又決定了熱點(diǎn)溫度值實(shí)際應(yīng)用中的外界溫度(環(huán)境溫度Ta),從熱點(diǎn)傳遞到周圍環(huán)境的總的熱阻(Rth)和由交流電流引起的能量損耗(PLOSS)。電容的內(nèi)部溫升與能量損耗成線形關(guān)系。

  電容充放電時(shí),電流在流過(guò)電阻時(shí)會(huì)引起能量損耗,電壓的變化在通過(guò)電介質(zhì)時(shí)也會(huì)引起能量損耗,再加上漏電流造成的能量損耗,所有的這些損耗導(dǎo)致的結(jié)果是電容內(nèi)部溫度升高。

 

新晨陽(yáng)電解電容

 


  在非固態(tài)電解液的電容里,電介質(zhì)為陽(yáng)極鋁箔氧化層。電解液作為陰極鋁箔和陽(yáng)極鋁箔氧化層之間的電接觸。

  吸收電解液的紙介層成為陰極鋁箔與陽(yáng)極鋁箔之間的隔離層,鋁箔通過(guò)電極引接片連接到電容的終端。

  通過(guò)降低ESR值,可減少電容內(nèi)由紋波電流引起的內(nèi)部溫升。

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