壓敏電阻失效的表現(xiàn)情況
壓敏電阻也有其局限,若是過電壓在電路系統(tǒng)中頻繁顯現(xiàn),則壓敏電阻器就會頻繁行徑以抑制過電壓幅值和吸收釋放電涌能量,這勢必會招致壓敏電阻器的機(jī)能劣化。
按照壓敏電阻器失效后的表現(xiàn)情況來看,可以分成幾種常見的失效狀態(tài):劣化:實(shí)物表現(xiàn)為使用萬用表測試壓敏電阻時(shí)出現(xiàn)漏電流增大情況,壓敏電壓顯著下降,直至為零。
炸裂:壓敏電阻器在抑制過電壓時(shí)將會發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象,非常明顯。
穿孔:電阻器的陶瓷外層將會瞬間發(fā)生電擊穿,出現(xiàn)穿孔狀態(tài)。
在壓敏電阻的應(yīng)用過程中,當(dāng)其出現(xiàn)性能劣化時(shí),常見的劣化模式有兩種:
第一種是開路模式:開路模式主要發(fā)生在MOV流過遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出自身承受的浪涌電流時(shí),通常表現(xiàn)為壓敏電阻本體炸裂,但這種模式不會引起燃燒現(xiàn)象。
第二種是短路模式:短路模式大體上可分為老化失效和暫態(tài)過電壓破壞兩種類型。
老化失效:電阻體的低阻線性逐步加劇,此時(shí)漏電流將會惡性增加且集中注入薄弱點(diǎn),導(dǎo)致薄弱點(diǎn)材料融化,形成一千歐左右的短路孔后。
電源繼續(xù)推動一個(gè)較大的電流灌入短路點(diǎn),形成高熱而起火,若壓敏電阻存在著制造缺陷,易發(fā)生早期失效,強(qiáng)度不大的電沖擊的多次作用也會加速老化過程,使老化失效提早出現(xiàn)。
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