壓敏電阻燒壞原因老化失效，表現(xiàn)為漏電流增大，壓敏電壓顯著下降，直至為零；

  老化失效是指電阻體的低阻線性化逐步加劇，漏電流惡性增加且集中流入薄弱點，薄弱點材料融化，形成1kΩ左右的短路孔后。

  電源繼續(xù)推動一個較大的電流灌入短路點，形成高熱而起火，這種事故通?？梢酝ㄟ^一個與壓敏電阻串聯(lián)的熱熔接點來避免。

  而暫態(tài)過電壓破壞是指較強的暫態(tài)過電壓使電阻體穿孔，導致更大的電流而高熱起火。

  整個過程在較短時間內(nèi)發(fā)生，以至電阻體上設(shè)置的熱熔接點來不及熔斷。

  壓敏電阻的使用安全性一直是一個需要重視的問題因壓敏電阻廣泛地應用在家用電器及其它電子產(chǎn)品中

  壓敏電阻起過電壓保護、防雷、抑制浪涌電流消噪、保護半導體元器件等作用建議選用優(yōu)質(zhì)的壓敏電阻器。