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電容器
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壓敏電阻的缺點(diǎn)是易老化

文章出處:作者:人氣:-發(fā)表時(shí)間:2018-07-20 17:08:00

  壓敏電阻的缺點(diǎn)是易老化,大多數(shù)情況下P-N結(jié)過(guò)載時(shí)會(huì)造成短路且不可回轉(zhuǎn)至正常狀態(tài),在電沖擊的反復(fù)多次作用下壓敏電阻內(nèi)的二極管元件被擊穿。


  電阻體的低阻線(xiàn)性化逐步加劇,壓敏電壓越來(lái)越低,漏電流越來(lái)越大,隨著MOV本體溫度的升高,漏電流更大,形成惡性循環(huán),以至MOV的溫度升高達(dá)到外包封材料的燃點(diǎn)。


  這種情況稱(chēng)之為高阻抗短路(1kΩ左右),焦耳熱使得MOV發(fā)熱增加且集中流入薄弱點(diǎn),薄弱點(diǎn)材料融化,形成1kΩ左右的短路孔后。

 
  電源繼續(xù)推動(dòng)一個(gè)較大的電流灌入短路點(diǎn),形成高熱而起火。

 

壓敏電阻

 


  研究結(jié)果表明,若壓敏電阻存在著制造缺陷,易發(fā)生早期失效,強(qiáng)度不大的電沖擊的反復(fù)多次作用,也會(huì)加速老化過(guò)程,使老化失效提早出現(xiàn)。


  壓敏電阻經(jīng)大脈沖電流沖擊后,其U/I特性會(huì)產(chǎn)生蛻變。蛻變的結(jié)果會(huì)使漏電流增大,壓敏電壓下降。


  把滿(mǎn)足下降要求的壓敏電阻器所承受的最大沖擊電流,稱(chēng)為壓敏電阻的通流容量,也稱(chēng)為通流能力或通流量。


  它是表征壓敏電阻器耐受高浪涌電流沖擊的能力的一個(gè)參量,此參數(shù)與脈沖幅度,脈沖持續(xù)時(shí)間及所承受的脈沖次數(shù)有關(guān)。

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