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電容器
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貼片陶瓷電容失效的內(nèi)在因素主要有哪些?

文章出處:作者:人氣:-發(fā)表時(shí)間:2016-03-25 17:15:00
新晨陽(yáng)電子
 
  多層陶瓷電容器本身的內(nèi)在可靠性十分優(yōu)良,可以長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定使用。但如果器件本身存在缺陷或在組裝過(guò)程中引入缺陷,則會(huì)對(duì)其可靠性產(chǎn)生嚴(yán)重影響。多層陶瓷電容器失效的原因分為外部因素和內(nèi)在因素。
 
  內(nèi)在因素主要包括:陶瓷介質(zhì)內(nèi)空洞導(dǎo)致空洞產(chǎn)生的主要因素為陶瓷粉料內(nèi)的有機(jī)或無(wú)機(jī)污染,燒結(jié)過(guò)程控制不當(dāng)?shù)取?斩吹漠a(chǎn)生極易導(dǎo)致漏電,而漏電又導(dǎo)致器件內(nèi)部局部發(fā)熱,進(jìn)一步降低陶瓷介質(zhì)的絕緣性能從而導(dǎo)致漏電增加。該過(guò)程循環(huán)發(fā)生,不斷惡化,嚴(yán)重時(shí)導(dǎo)致多層陶瓷電容器開(kāi)裂、爆炸,甚至燃燒等嚴(yán)重后果。
  
  燒結(jié)裂紋,燒結(jié)裂紋常起源于一端電極,沿垂直方向擴(kuò)展。主要原因與燒結(jié)過(guò)程中的冷卻速度有關(guān),裂紋和危害與空洞相仿。
此文關(guān)鍵字:貼片電容廠家

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