陶瓷電容的失效分析
電容的應(yīng)用已經(jīng)越來(lái)越廣了，但我們都知道，陶瓷電容是會(huì)損壞的，是會(huì)失效的，導(dǎo)致陶瓷電容失效的原因有很多。
內(nèi)電極之間是陶瓷介質(zhì)，陶瓷介質(zhì)中分布著一-些大小不等的微小孔洞，在高溫下電極非常容易擴(kuò)散遷移，擴(kuò)散到陶瓷介質(zhì)中。
在潮濕和雜質(zhì)離子的作用下，這些孔洞成為電極遷移的通道。
從而導(dǎo)致電容器的絕緣電阻下降，漏電流增大，出現(xiàn)電容器擊穿，燒毀失效。
表明失效電容的電極中碳和氧的含量增加了，說(shuō)明金屬電極發(fā)生了氧化并卻有新的含碳的化合物生成。
這會(huì)導(dǎo)致陶瓷電容的損耗角正切值D增加，絕緣電阻增大，電容量漂移間隔著具有半導(dǎo)體性質(zhì)的氧化銀。
使無(wú)機(jī)介質(zhì)電容器的等效串聯(lián)電阻增大，金屬部分損耗增加，電容器的損耗角正切值D顯著上升。
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- PTC熱敏電阻 MZ72-027RM
電阻: 10Ω~100Ω 誤差: 20%
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