對于輸出電容器，過濾和儲存電源模塊調(diào)整后的電流。這里的電流經(jīng)過一次過濾后相對穩(wěn)定，爆漿的可能性相對較小。但如果環(huán)境溫度過高，電容器也很容易發(fā)生。電容的使用壽命隨溫度的增加而減小，實驗證明環(huán)境溫度每升高10℃，電容器的壽命會減半。主要原因是溫度加速化學(xué)反應(yīng)，導(dǎo)致介質(zhì)隨時間退化失效，從而結(jié)束電容壽命。為保證電容器的穩(wěn)定性，電容器在插板前必須經(jīng)過長時間的高溫環(huán)境測試。此外，電容爆漿也可能發(fā)生異常使用。

輸入電容爆漿和輸出電容爆漿分為兩類。對于輸入電容器，它是一個體積大、容易大、額定電壓高的電容器，過濾接收到的電流。輸入電容爆漿與輸入電流和電容本身的質(zhì)量有關(guān)。毛刺電壓過高，峰值電壓過高，電流不穩(wěn)定，使電容器充放電過頻繁。長期處于這種工作環(huán)境中的電容器內(nèi)部溫度迅速升高。如果超過泄爆口的承載極限，就會發(fā)生爆漿。

對于輸出電容器，過濾和儲存電源模塊調(diào)整后的電流。這里的電流經(jīng)過一次過濾后相對穩(wěn)定，爆漿的可能性相對較小。但如果環(huán)境溫度過高，電容器也很容易發(fā)生

電容爆漿的原因有很多，如電流大于允許的穩(wěn)波電流、使用電壓超過工作電壓、反向電壓、頻繁充放電等。但最直接的原因是高溫。我們知道電容器的一個重要參數(shù)是耐溫值，指的是電容器內(nèi)電解液的沸點。當(dāng)電容器的內(nèi)部溫度達(dá)到電解質(zhì)的沸點時，電解質(zhì)開始沸騰，電容器的內(nèi)部壓力增加，當(dāng)壓力超過的承載極限時，就會發(fā)生爆漿。因此，溫度是電容爆漿的直接原因。

電容的使用壽命隨溫度的增加而減小，實驗證明環(huán)境溫度每升高10℃，電容器的壽命會減半。主要原因是溫度加速化學(xué)反應(yīng)，導(dǎo)致介質(zhì)隨時間退化失效，從而結(jié)束電容壽命。為保證電容器的穩(wěn)定性，電容器在插板前必須經(jīng)過長時間的高溫環(huán)境測試。同時，電容的使用壽命是指電容在使用過程中不會超過標(biāo)準(zhǔn)范圍變化的10%。因此，在短時間內(nèi)，正常使用的板卡電容會爆漿，這就是電容質(zhì)量的問題。此外，電容爆漿也可能發(fā)生異常使用。

摘自：http://www.sznse.com/Article/cpdrydsdr.html